设备名称:

Nikon N-SIM S & TIRF（结构光照明和全内反射显微镜）

设备简介:

结构光照明显微镜（Structured illumination microscope，SIM），利用带有精细条纹的照明光源，投射到样本上生成摩尔纹图形，通过改变照明光的角度和相位，提取样品中的高频信息并重建出超分辨率图像。

全内反射荧光显微镜（Total internal reflection fluorescent microscope，TIRF），利用全内反射产生的隐逝波激发样品，从而使样品表面数百纳米内的荧光基团受到激发，产生荧光信号。

中心本设备整合了SIM和TIRF技术，具有2D-SIM、3D-SIM、TIRF成像模式。适用于观察较薄样品（如贴壁细胞、细/真菌等微生物）中蛋白或生物大分子在细胞内/膜上的空间分布以及精细结构。

技术参数：

1. 物镜：10X, 20X, 40X, 60X(W), 100X (Oil), 100X (Sil)；

2. 激光：405nm, 488nm, 561nm, 640 nm；

3. 检测器：两个ORCA-Flash 4.0sCMOS相机；

4. 最高分辨率：

  3D-SIM模式： XY方向115nm，Z方向269nm；

  TIRF模式： XY方向200-300nm， Z方向100nm；

5. 该显微镜配有活细胞培养装置和计算机工作站。

联系方式:

房间号：224     负责人：靖静     办公室电话：68750166      邮箱：jingj@whu.edu.cn