设备名称:

Abberior STEDYCON（受激发射损耗超分辨显微镜）

设备简介:

受激发射损耗显微镜 (Stimulated Emission Depletion Microscope, STED) 是一种突破光学衍射极限的显微镜技术。采用两束激光同时照射样品，其中一束激光用来激发荧光分子，使物镜焦点艾里斑范围内的荧光分子处于激发态；另外一束中心光强为零的环形损耗激光与之叠加，使物镜焦点艾里斑边沿区域处于激发态的荧光分子通过受激辐射损耗过程返回基态而不自发辐射荧光，因此只有中心区域的荧光分子可自发辐射荧光，从而获得超衍射极限的荧光发光点。STED技术是唯一不需要通过算法的超分辨技术，给研究者采集最真实的实验数据。

STED超分辨成像技术建立在共聚焦显微成像技术基础上，本设备一机多能，既包含共聚焦显微镜功能，也包含STED超分辨功能。可用于固定/活细胞或组织内部超微结构和形态变化（如各种细胞的亚细胞器、分泌囊泡、细胞骨架、突触、染色体以及包括蛋白质等）的超高分辨率水平成像；在细胞及分子生物学，神经科学，组织及病理学、病毒及微生物学，免疫及肿瘤学等领域具有广泛用途。

技术参数：

1. 物镜： 20X (Oil), 40X, 100X (Oil)；

2. 激发激光：405nm, 488nm（脉冲）, 561nm（脉冲）, 640 nm（脉冲）；

3. STED损耗光：775nm（脉冲）；

4. 检测器：4个APD检测器；

5. 最高分辨率：

  STED超分辨模式：XY方向 40nm， Z方向 500-600nm；

  共聚焦模式：XY方向200nm，Z方向500-600nm；

6. 压电陶瓷高精度Z轴载物台。

联系方式:

房间号： 226     负责人：靖静     办公室电话：68750166     邮箱：jingj@whu.edu.cn